半導体

  1. パーティクル測定装置(Fastmicro)

    半導体業界における表面付着パーティクル軽減のための測定ツールです。EUV露光装置開発プロジェクトで適用されている最新のツールであり、従来の測定方法に比べより「手軽に」「頻回に」「ローコストで」測定ができるパーティクル(微粒子)低減方策の決定版です。

  2. 厚み/膜厚/光学定数測定装置(NXT GmbH)

    塗布されたナノレベルの薄い膜厚を測定する装置です。高速、非接触、かつ精度良く大面積でも測定できることが特徴です。R&amp…

  3. 光焼結・UV装置・紫外線照射装置 UV硬化システム(Xenon Corporation)

    Xenon(ゼノン)社製キセノン(クセノン、ゼノン)パルス照射装置Xenon(ゼノン)社製キセノン(クセノン、ゼノン)パルス照…

  4. QCM-D測定装置 QSense シリーズ(Biolin Scientific社)

    QSense – ソフトマター解析のデファクトスタンダード!実績のあるパワフルな消散監視機能付き水晶振動子マイクロバランス (QC…

  5. エアロゾルジェット描画装置(OPTOMEC社)

    オプトメック社は、金属、電子機器、センサーなどへ特化したものづくりを行なっており、パーツ、設備、デジタル機器への描画…

  6. 低周波共振音響ミキサー (Resodyn社)

    音響ミキサー/RAM(Resonance Acoustic Mixer)世界最速を目指す圧倒的な処理スピード!!音響共振エネルギーを利用した、混合…

  7. 薄膜シート抵抗測定装置(CAPRES社)

    正確な薄膜シート抵抗測定の必要性今日のナノテクノロジーによるエレクトロニクスの微細化、薄膜化により、抵抗分布測定にお…

  8. 高分解能・高精細測定装置向けアクティブ除振台(Accurion社)

    Accurion社とは高分解能・高精細測定装置向けアクティブ除振台のスペシャリストメーカーAccurionの製品は測定機の性能そのもの…

  9. イメージングエリプソメーター(Accurion社)

    従来のエリプソメーターは方位分解能が約50μmぐらいで、膜厚測定はレーザースポットがあたる1点のみを測定していました。これ…