検査 / 測定

ナノレベルの測定を要する半導体分野、理化学研究分野で用いられる検査/測定機器をご提供。パーティクル低減、膜厚測定から、表面張力・接触角など液体の測定まで。

  1. パーティクル測定装置(Fastmicro)

    半導体業界における表面付着パーティクル軽減のための測定ツールです。EUV露光装置開発プロジェクトで適用されている最新のツールであり、従来の測定方法に比べより「手軽に」「頻回に」「ローコストで」測定ができるパーティクル(微粒子)低減方策の決定版です。

  2. 厚み/膜厚/光学定数測定装置(NXT GmbH)

    塗布されたナノレベルの薄い膜厚を測定する装置です。高速、非接触、かつ精度良く大面積でも測定できることが特徴です。R&amp…

  3. QCM-D測定装置 QSense シリーズ(Biolin Scientific社)

    QSense – ソフトマター解析のデファクトスタンダード!実績のあるパワフルな消散監視機能付き水晶振動子マイクロバランス (QC…

  4. 薄膜シート抵抗測定装置(CAPRES社)

    正確な薄膜シート抵抗測定の必要性今日のナノテクノロジーによるエレクトロニクスの微細化、薄膜化により、抵抗分布測定にお…

  5. 表面張力計 Sigma シリーズ(Biolin Scientific社)

    表面張力計 Sigmaシリーズの表面張力計は、高分解能バランスを採用して高分解能 0.001mN/m を実現。高分解能は表面張力の測定…

  6. 接触角計測装置 Theta シリーズ(Biolin Scientific社)

    接触角計 Thetaシリーズ全てのモデルは新たに業界最高水準のハイスピード、高解像度カメラを搭載することによって新次元の接…

  7. コンタクトレンズ用 測定装置 (Createch/Rehder Dev Co.)

    米国のCreatech/Rehder社は「ISO 18369」に準拠したコンタクトレンズ用の酸素透過度・レンズ厚み測定装置のメーカーです。製…